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產品資料
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日本ae-mic超低電阻測試儀

產品名稱: 日本ae-mic超低電阻測試儀
產品型號: AE-1152D_11C
產品特點: 日本ae-mic超低電阻測試儀
自動測量超低電阻的醉佳選擇
配備BIN功能,判斷結果可以分為11類

日本ae-mic超低電阻測試儀 的詳細介紹

日本ae-mic超低電阻測試儀

 

  • 非常適合分流電阻器等的超低電阻測量。
  • 取消對熱電效應的測量
  • 脈沖測量電流,以減少測量端子的自熱和磨損
  • 接觸檢查功能標準設備
  • 測量:0.0000mΩ?1.5000kΩ
  • %測量值:0.1mΩ?1kΩ/±50.00%[小分辨率10nΩ]
  • GP-IB / RS-232C / Centronics接口(可選)
  • 配備BIN功能[BIN1至BIN9] (多可以分類11個),集電極開路輸出,LED顯示和蜂鳴器聲音
  • 測量電流/測量電壓異常檢查電路的標準設備
  • 移位輸出可能

測量范圍和基本精度(環(huán)境溫度23°C±5°C)

測量范圍測量范圍解析度實測電流測量精度
1毫歐0.0000mΩ?1.5000mΩ0.1微歐3A±(0.01 Pasento RDG Tasu 1Myuomega)
±3Digit [平均] 
±4位數(shù)[SLOW] 
±5digit [快]
10毫歐0.000mΩ至15.000mΩ1微歐1A
100毫歐0.00mΩ至150.00mΩ10微歐
0.0000Ω?1.5000Ω100微歐100毫安
10Ω0.000Ω至15.000Ω1毫歐
100Ω0.00Ω至150.00Ω10毫歐10毫安
1KΩ0.0000kΩ至1.5,000kΩ100毫歐1毫安
0.1mΩ?1kΩ/±50.00%0.01%[10nΩ]看上面參考規(guī)格
測量端子開路電壓5V以下
測量方式4端子測量[可進行接觸檢查]
采樣時間[自由運行] 2至10次/秒
[外部啟動]大約9毫秒-400毫秒。
比較器設定范圍上限和下限均為[0至15000],
%范圍:低0至-50%,高0至+ 50%
比較器判斷結果顯示[BIN1至BIN9]顯示和蜂鳴器
控制信號測量開始信號:以“ L” [0V]→“ H” [DC12V]開始
保持信號:斷開,“ H” [DC12V]:自由運行,“ L” [0V]:保持
判斷結果信號[LO / GO(BIN1至BIN9)/ H1] 
:集電極開路輸出max40V,100mA
接觸錯誤[CONT-E]:
集電極開路輸出大40V,100mA
測量結束信號[EOC]:集電極開路輸出大40V,100mA
周邊環(huán)境溫度:5℃?+ 40℃濕度:85%以下
需要電源AC85V-265V,50-60HZ,約60VA
外形尺寸333(W)x 99(H)x 300(D)mm(不包括橡膠腳等突起)
重量約3kg
選項? RS-232C這些選項中 只有
一個
可以內置。
? GP-IB
?打印機輸出(Centronics)
?打印機電纜
?短接(零歐姆標準電阻)

 日本ae-mic超低電阻測試儀

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