鋁合金中有害重金屬分析及檢測設(shè)備介紹
能量色散 X 射線熒光分析儀“OURSTEX 160"
能量色散 X 射線熒光分析儀用 X 射線管發(fā)出的初級 X 射線照射樣品,并用半導(dǎo)體探測器測量產(chǎn)生的 X 射線熒光,因此無論樣品形狀如何,它都是非破壞性和元素定性的。樣品。? 進(jìn)行定量分析。
半導(dǎo)體探測器采用電子冷卻硅漂移探測器(SDD),無需液氮冷卻,可結(jié)合數(shù)字計數(shù)電路(DSP)測量高分辨率和高計數(shù)率。
為了提高分析性能,準(zhǔn)備了能夠使半導(dǎo)體探測器的能量分辨率和計數(shù)靈敏度大化的激發(fā)光學(xué)系統(tǒng)的條件。
同時分析碘化銫 (CsI) 化合物中的碘 (I) 和銫 (Cs)
焚燒灰分析實例
水泥分析示例
在采石場現(xiàn)場分析泥沙、礫石和碎石的示例
鋁合金中的鎂測量示例(每種類型)
農(nóng)藥污染土壤分析
工業(yè)廢棄物分析
土壤中有害重金屬元素分析
油中的硫分析
新型固體燃料RPF分析
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