納米粒子用粒度分析軟件介紹
結(jié)合各種識別工具,實(shí)現(xiàn)對所有粒子的測量和分析
通過讀取SEM或TEM拍攝的圖像并識別目標(biāo)顆粒,自動計(jì)算粒度分布并量化顆粒形狀。
通過使用手寫板的手動分析工具,可以輕松識別形狀復(fù)雜的顆粒和聚集的顆粒。
Mac-View Version.5 的新功能和改進(jìn)
-在粒子采集模式中增加了“針形"
■ 凝聚粒子的一次粒徑分析
可以評價凝集粒子的初級粒徑,這在過去是困難的。
■ 納米粒子的評價
只要有尺度信息,無論顆粒大小如何,都可以進(jìn)行分析。
■ 多方面分析/評估
可以自動測量粒度分布并分析顆粒形狀(圓度、縱橫比等)。另外,可利用的數(shù)據(jù)豐富,可以評價凝聚粒子的初級粒子。
■ 易于操作
不需要特別的知識,操作簡單,與作業(yè)人員的熟練程度無關(guān)。
■ 無需昂貴的資本投資
只要您準(zhǔn)備好圖像(jpeg、位圖),您就可以在 PC 上安裝軟件后立即使用它。
納米粒子、凝聚粒子、造粒體、燒結(jié)體截面、乳化粒徑等
■ 粉體分析綜合軟件Mac-PIAS
Mac-PIAS是一個全新維度的綜合粉體分析軟件,可以對任何方法測得的“粒度分布數(shù)據(jù)"進(jìn)行統(tǒng)一管理和分析。
■ 篩分試驗(yàn)數(shù)據(jù)分析軟件Macmesh
Macmesh 是一種工具,可以消除篩選測試中的人為錯誤,數(shù)據(jù)量大,工作效率高。
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